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半導體閂鎖測試儀7000B

產品簡介

半導體閂鎖測試儀7000B產品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動測試、對應引腳組合測試、高達8kV HBM測試、采用高規(guī)格電源進行破壞判定。

產品型號:
更新時間:2025-05-15
廠商性質:代理商
訪問量:1300
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品牌TET產地類別進口

半導體閂鎖測試儀7000B產品簡介7000B系列測試機臺陣容有:●7000B-E(專用于ESD試驗)●7000B-L(專用于閂鎖試驗)●7000B-EL(用于ESD/閂鎖試驗)產品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動測試、對應引腳組合測試、高達8kV HBM測試、采用高規(guī)格電源進行破壞判定。】【閂鎖部-滿足 JEITA, JEDEC, AEC標準、DUT穩(wěn)定化功能 輸入引腳Max HI/Min LO和時鐘/圖形發(fā)生器為標準配置、可搭載最多10臺電源(內部6臺和外部4臺)、高溫閂鎖試驗(選件)、動態(tài)IC的閂鎖試驗(可選)。ESD/閂鎖共用部-引腳數(shù):128、256、512,最多10個相同的被測物連續(xù)測試。

半導體閂鎖測試儀7000B

 

半導體閂鎖測試儀7000B

半導體閂鎖測試儀7000B

半導體閂鎖測試儀7000B產品詳情:

*1 MM標準是400V。 可施加2kV,但持續(xù)高電壓試驗會使繼電器壽命縮短。

*2 每臺電源均具有閂鎖判定功能和電源過電壓功能。  

*3 應同時使用耐高溫熱電纜和外部夾具。  

*4 需使用示波器(3054系列),電流探頭(CT-1)和20dB衰減器。

 

 

 

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