產(chǎn)品簡(jiǎn)介

蔡司ZEISS 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Gemini系列 這一名字代表著可以輕松實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)別高分辨率的成像技術(shù)，足以滿足您在面對(duì)高要求的材料和生命科學(xué)項(xiàng)目時(shí)的成像要求。將高檢測(cè)效率與出色的分析性能相結(jié)合，使用非浸沒(méi)式物鏡技術(shù)即可實(shí)現(xiàn) 1kV 以下的亞納米分辨率。三款special設(shè)計(jì)的 Gemini 電子光學(xué)鏡筒以及一個(gè)大型靈活的新型樣品室可以滿足您所有的成像和分析需求。

蔡司ZEISS 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Gemini系列詳細(xì)說(shuō)明：

蔡司ZEISS 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Gemini系列充分利用 Gemini 電子光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)GeminisEM 系列產(chǎn)品基于成熟的蔡司Gemini 技術(shù)，此項(xiàng)技術(shù)已有超過(guò) 25 年的使用歷史。

這一系列配備有完整高效的探測(cè)系統(tǒng)，并具有出色的分辨率和易用性等特點(diǎn)Gemini 物鏡的設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電場(chǎng)與磁場(chǎng)，在提升光學(xué)性能的同時(shí)將它們對(duì)樣品的影響降至least。因此，即便是要求苛刻的樣品--如磁性材料，也能進(jìn)行高品質(zhì)成像。在 Gemini鏡筒設(shè)計(jì)理念中，Inlens 用二次電子(SE)和背散射電子(BSE)探測(cè)器來(lái)確保高效的信號(hào)檢測(cè)。Inlens 探測(cè)器均放置在鏡筒內(nèi)正光軸上，在減少重新校準(zhǔn)耗時(shí)的同時(shí)有效地縮短了獲取圖像的時(shí)間。

Gemini 電子束推進(jìn)器技術(shù)可以保證在非常低的加速電壓下仍獲得小束斑和高信噪比此外，它確保了電子束在鏡筒中運(yùn)動(dòng)時(shí)始終保持高加速電壓，直至出鏡筒后才減速至設(shè)定電壓，更大程度地減小外部雜散磁場(chǎng)對(duì)系統(tǒng)靈敏度的影響。GeminiSEM 360、GeminiSEM 460和 GeminiSEM 560三者均應(yīng)用了 Gemini 設(shè)計(jì)、Inlens 探測(cè)器和電子束推進(jìn)器技術(shù)。