產(chǎn)品簡介

日本電子JEOL場發(fā)射透射電鏡F200是日本電子新一代多用途場發(fā)射透射電子顯微鏡，可以很好滿足當(dāng)今用戶的多樣化需求。F2在保證高性能和滿足多樣化需求的同時采用了以用戶為取向的一體化操作設(shè)計。

日本電子JEOL場發(fā)射透射電鏡F200詳細(xì)說明：

日本電子JEOL場發(fā)射透射電鏡F200JEM-F200的外觀和操作模式基于“智能化”的理念進(jìn)行了全新的設(shè)計。全新的人機(jī)界面使得用戶可以專注于電鏡觀察和分析工作。得益于日本電子在電子光學(xué)領(lǐng)域多年的積累，新設(shè)備采用了球差電鏡的高穩(wěn)定度的設(shè)計理念，該設(shè)備的機(jī)械穩(wěn)定度和電氣穩(wěn)定度得以大大改善，從而可以保證更加出色的性能。

JEM-F200 配置肖特基場發(fā)射電子槍，或者冷場發(fā)射電子槍*，高亮度和高穩(wěn)定性的場發(fā)射電子槍可以極大提高觀察和分析效率。

對于冷場電子槍，可以獲得更高亮度和更小能量發(fā)散度的電子源，亮度高于8x108A/cm2·sr，能量發(fā)散度可以低至0.3eV，在圖像質(zhì)量和分析效果上更勝yichou，更適合行高能量分辨率的EELS分析，可以對樣品進(jìn)行精細(xì)的化學(xué)結(jié)合態(tài)分析。

JEM-F200上引入了全新的四級聚光鏡設(shè)計，可以滿足日益增加的各種應(yīng)用。在這個全新系統(tǒng)的支持下，前兩級聚光鏡可以控制束斑尺寸和束流強(qiáng)度，其形成的電子?xùn)|交叉點(diǎn)可以固定在特定的位置，然后通過后兩級聚光鏡實(shí)現(xiàn)照明區(qū)域和匯聚角度的控制。除此外，在TEM模式成像中非常重要的平行光照明模式可以像傳統(tǒng)電鏡一樣輕松實(shí)現(xiàn)。該系統(tǒng)的使用可以輕松得到高質(zhì)量的明場和暗場圖像。